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セラドン
ウェハープロービングシステム

Single Site Probe Card Solutions

T40 Low Leakage Probe Tile

T40 Low Leakage Probe Tile

 
  • DCパラメトリックテストやWLRに最適
  • スタンダードな4.5インチ（長方形）
    カードホルダー対応
  • 耐熱温度-65℃〜+300℃
  • fAレベルリーケージ測定
  • クイックディスコネクト
    トライアキシャルケーブル対応
  • Quasi-Kelvin接続可
  • 様々な接続オプション可

T40 Low leakage Probe Cards 200 C Internal Connectors

T40 Low Leakage Probe Card 200 C Internal Connectors
  • DCパラメトリックテストやWLRに最適
  • スタンダードな4.5インチ（長方形）
    カードホルダー対応
  • 耐熱温度-65℃〜+200℃
  • fAレベルリーケージ測定
  • クイックディスコネクト
    トライアキシャルケーブル対応
  • Quasi-Kelvin接続可
  • 様々な接続オプション可
Tile on Card
Tile on Card
Multi-Site Eagle Tester Card

Multi-Site
Eagle Tester Card

Single Site 5

 Single Site 5
VersaTile™on Mounting Plate
VersaTile TM on Mounting Plate

DCパラメトリックテストやWLRに最適
耐熱温度-65℃〜+300℃
fAレベルリーケージ測定
クイックディスコネクトトライアキシャルケーブル対応
Quasi-Kelvin接続可
様々な接続オプション可

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