最新式チャンバーレスバーンイン装置が株式会社東芝システムLSI事業部で採用決定。

 
 


パワーデバイス総合評価システム/FATProbe HOTEI TYPE A/HOTEI TYPE A シリーズ
HOTEI PPSシリーズ/HOTEI PPS7724 4200 GUI付測定モジュール/GUIシリーズ
測定器制御ソフトウェア/RF シリーズ
マルチサイト信頼性試験/MSR423K  
マルチサイト信頼性試験/MSR453K
マルチサイト信頼性試験/MSR263K Wafer Map Tool/ WMT シリーズ
マルチサイト信頼性試験/S510
Pulse-IVシステム/Pulse シリーズ L負荷UISテスター/ITC55100
簡易型RF測定システム/RFシリーズ L負荷UISテスター/ITC57600
DC&Laserシステム/FAR42300 L負荷UISテスター/ITC55300
  Analog/Mixed Signal Tester/AMX400
パラメータアナライザ/4200 SCS セミオートプローバ/Flexcer
  マニュアルプローバ・セミオートプローバ /TEcSTAR
DDRテストシステム/M1K

sProber ナノマニュピレータ

フラッシュメモリーテスト/Model 500 nProber ナノマニュピレータ
S100 ナノマニュピレータ
試作基板加工システム/Quick Circuit 5000 ナノエフェクター プローブ
試作基板加工システム/Quick Circuit 7000 マイクログリッパー
試作基板加工システム/Quick Circuit 9000
試作基板加工システム/Quick Circuit 5000HS Streetwise/Streetwise
試作基板加工システム/Quick Circuit 7000HS
試作基板加工システム/Quick Circuit 9000HS チャンバーレス・バーンイン装置/Model 5030
試作基板加工システム/Quick Circuit HF
試作基板加工システム/Quick Plate 912 PB1200 プローブカードテスト&リペアステーション
試作基板加工システム/Quick Plate 1812 PB1500 プローブカードアナライザ
試作基板加工システム/ML-Press4-15X15 PB3500 プローブカードアナライザ
試作基板加工システム/ML-Press4-15X20 PB6500 プローブカードアナライザ
試作基板加工システム/ML-Q230
試作基板加工システム/ML-Q240 プローブカードソリューション