最新式チャンバーレスバーンイン装置が株式会社東芝システムLSI事業部で採用決定。
パワーデバイス総合評価システム/FATProbe
HOTEI TYPE A/HOTEI TYPE A シリーズ
HOTEI PPSシリーズ/HOTEI PPS7724
4200 GUI付測定モジュール/GUIシリーズ
測定器制御ソフトウェア/RF シリーズ
マルチサイト信頼性試験/MSR423K
マルチサイト信頼性試験/MSR453K
マルチサイト信頼性試験/MSR263K
Wafer Map Tool/ WMT シリーズ
マルチサイト信頼性試験/S510
Pulse-IVシステム/Pulse シリーズ
L負荷UISテスター/ITC55100
簡易型RF測定システム/RFシリーズ
L負荷UISテスター/ITC57600
DC&Laserシステム
/FAR42300
L負荷UISテスター/ITC55300
Analog/Mixed Signal Tester/AMX400
パラメータアナライザ/4200 SCS
セミオートプローバ/Flexcer
マニュアルプローバ・セミオートプローバ /TEcSTAR
DDRテストシステム/M1K
sProber ナノマニュピレータ
フラッシュメモリーテスト/Model 500
nProber ナノマニュピレータ
S100 ナノマニュピレータ
試作基板加工システム/Quick Circuit 5000
ナノエフェクター プローブ
試作基板加工システム/Quick Circuit 7000
マイクログリッパー
試作基板加工システム/Quick Circuit 9000
試作基板加工システム/Quick Circuit 5000HS
Streetwise/
Streetwise
試作基板加工システム/Quick Circuit 7000HS
試作基板加工システム/Quick Circuit 9000HS
チャンバーレス・バーンイン装置/Model 5030
試作基板加工システム/Quick Circuit HF
試作基板加工システム/Quick Plate 912
PB1200 プローブカードテスト&リペアステーション
試作基板加工システム/Quick Plate 1812
PB1500 プローブカードアナライザ
試作基板加工システム/ML-Press4-15X15
PB3500 プローブカードアナライザ
試作基板加工システム/ML-Press4-15X20
PB6500 プローブカードアナライザ
試作基板加工システム/ML-Q230
試作基板加工システム/ML-Q240
プローブカードソリューション