特殊な測定から解析、改善レポートまで ワンストップソリューションを実現します

半導体電気測定委託サービス

ティアテックが所有するテスタ、プローバを有効活用し、
お客様の要望にあった測定、解析はもちろん、
必要に応じて故障解析、歩留解析、改善レポートまで作成します。
特殊環境での測定、特殊な治具が必要な測定など
一般には不可能と思われる測定を可能にする。
誰もやっていないことに挑戦し、独自技術と創意工夫で結果を出す。
それがティアテックの「半導体電気測定委託サービス」です。

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良品率アップを図りたいが 特殊デバイスのテストが難しい。 もうこれ以上は無理と諦めていませんか?

「対応不可能といわれてしまった」 そんな時には、特殊なウエハの特殊な測定を得意としいる ティアテックにお任せください。
特殊デバイスも測定できます

「自社テスタでは特殊デバイスの対応が難しくなった」「他のテストハウスでは、対応不可能といわれてしまった」…。そんな時には、ティアテックにお任せください。
ティアテックでは、例えば、お客様の持つプローブカードの隙間から、ポジショナでウェハーに針を当て、電源を取るなどの特殊な対応も可能です。さらに、ソフトウェア開発も得意とする当社では、新たなデバイスの測定データも、お客様の社内独自のフォーマットデータにして出力することも可能です。また、スパイスモデリング用ソフトに対応したデータ出力、ウェハー面内すべての測定をし、その測定結果から、初期不良になりやすいデバイスの特定などのレポート作成や歩留解析、測定結果解析まで対応しています。
製造品質向上に、ティアテックの応用力をご活用ください。

相談レベルからでOKです。半導体電気測定について、まずは気軽にメールをください。
フォームでのお問い合わせはこちら 株式会社ティアテック TEL 03-5823-5323

生産コストダウンのために テスト費用を削減したいのだけれど・・・。

プローブカードのカスタマイズしてリユースも可能! 自社負担で高価な装置を導入することなく、必要な測定データのみを提供することもできます。

高性能化する一方で、価格競争も激化する半導体業界。製造コスト削減も迫られていることでしょう。コスト削減の一つの手法として、ティアテックを利用してみませんか。
例えば、データ測定に欠かせないプローブカード。ティアテックでは、新規作成も可能ですが、お客様の持つプローブカードをカスタマイズしてリユースも可能にしています。つまり、プローブカード作成費用が削減できるのです。
また、新しいデバイス開発の過程で「自社では測定できない大電流/高電圧測定が必要になった。新規に設備を購入すると莫大な費用がかかってしまう」、そんな時こそ、ティアテックの出番です。ティアテックでは1000Vや3000Vでの測定経験もあり、装置を組み合わせてパラメトリックテストシステムを構築可能。自社負担で高価な装置を導入することなく、ティアテックが必要な測定データのみを提供します。
製造コスト削減に、多種多様な測定システムを組み上げているティアテックの技術力をご活用ください。

プローブカードをカスタマイズしてリユースも可能です
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フォームでのお問い合わせはこちら 株式会社ティアテック TEL 03-5823-5323

今のテスト方法がうまくいかない。 でも何が原因かすらわからない・・・。

半導体テストを熟知した技術者が、 多面的に、そして的確に原因を解析します。
半導体テストを熟知した技術者が、 多面的に、そして的確に原因を解析します

少数精鋭のテスト技術専門集団であるティアテックでは、特殊なウェハーの特殊な測定を得意としています。だからこそ「新しく製造し始めたウェハーの測定データがうまくとれない、その理由を解析してほしい」といったデバックモードも受託可能。「ディレイに問題があるのか」「プローブカードに不具合があるのか」など、半導体テストを熟知した技術者が、多面的に、そして的確に原因を解析します。
さらに、必要があれば故障解析も可能です。不良箇所に対して、カットしてSEMやTEM、エミッションで観察する、OBIRCHを使用するなど、多面的な故障解析に対応しています。
また、ソフト改善、ケーブル改造、テスタの構成変更、テスタの組み合わせによる測定システムの再構築などの改善提案までにも対応しています。
テストだけではなく、テスト場面におけるあらゆる問題解決に、ワンストップソリューションを可能にしたティアテックの総合力・提案力をご活用ください。

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委託測定内容「データ取得から解析までトータルサポート」

ティアテックには様々な測定装置があります

ティアテックには様々な測定装置があります

  • 〜8インチウェハーまでの全自動測定
  • 試験温度 -40℃〜300℃対応
  • 各種TEGのDC測定、容量測定
  • 抵抗、MOS-FET、ダイオード、IGBT測定
  • 素子の各種パラメータを取得
  • 各種パッケージ、チップレベルでの測定
  • fAレベルの超低リーク測定
  • 〜400Aパルス測定
  • 〜2kV高耐圧測定
  • ウェハーレベルバーンイン
  • TDDB、NBTI、HCI、EMなど長期信頼性試験
  • L負荷、R負荷スイッチング測定
  • アバランシェ・コラプス試験
  • 42Hz〜120MHzの容量測定
  • RF測定
  • アウトライアー解析(PAT解析)
  • エミッション・OBIRCH・LTP解析
  • スパイスモデリングサービス
  • 測定用特殊治具製作、PAD形成 等

今、お困りのことがあれば、お気軽にご相談ください。

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これまでの豊富な測定実績から、お客様の要望にあった測定、解析はもちろん、
必要に応じて故障解析、歩留解析、改善レポートまで作成いたします。
今、お困りのことがあれば、お気軽にご相談ください。

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