*ITC55100モデルはITC55300の高電流400ampsに比べ高電流200ampsです。その他 の機能はITC55300とまったく同じです。
 
通常のL負荷テストに加え、そのテスト精度、テスト 結果収集・表示、複数のネットワーク接続可能など改良され、多機能性に富んでおり、 N、P channelも同時に測定可能です。またIGBT、power　MOSFETｓの評価試験、信頼性 テストを行い、オプションによっては1極性または2極性のダイオード、IGBTｓの順方向、 逆方向バイアスもテストできます。MIL規格3470に対応したテストも可能です。また、 オプションのインダクターボックスを使用することによって、インダクタンスを自動的に可変 させて負荷テストが可能なテスターです。
 

■テスト機能

• デバイスソケット又はコンタクトの連続的な試験
• アバランシェテスト前後のゲートに0バイアス印加時のリークテスト
• 機能的なデバイステスト
• アバランシェテスト

■テストモード

• Single-Pulse Unclamped Inductive Switching (UIS)
• Single-Pulse Avalanche Stress (EAS)
• Repetitive Avalanche Energy　(EAR)
• Repetitive Pulse to Failure (RPT)