5030バーンインテストシステムは半導体デバイスの大量生産用の大規模な設定可能バーンインシステムです。
5030のモデルは同時に最大32の異なるバーンイン作業ができ、もちろんそれぞれの電圧、温度、バーンインタイム、デジタルテストなどから成るレシピの元でテストが出来ます。
洗練されたＤＵＴレベルのコントロールは電流リミットまたは温度リミットを越えた場合に自動的にDUT電圧を遮断します。768ものデバイスからなる、パラメトリックはファイルに400ミリ秒毎に記録されます。
高性能の二相冷凍からなる冷却法は電気代を節約する一方、5030に前例のないＤＵＴパワーレベルを可能にします。
■機能
- Built-In Burn-in Board (BIB) loader/unloader 機能
- 一括処理ではない、流れ作業による、90％以上の設備利用
- バーンイン作業を通して、リアルタイムでのモニタリング、ＤＵＴ温度、電流、パワーのログ
- 標準設定 − 200Ｗで576ＤＵＴ、350Ｗで256ＤＵＴまでの測定
- スロットレベル、DUTレベルでの電気、温度のコントロール
- 高性能 − ACパワーは1.4×ＤＵＴのパワーしか必要としません
■サービス&サポート- ＢＩＢデザインサポート
- 世界中に拠点を置くサービスエンジニア
- オンサイトインストレーション、試運転、トレーニング
- オンラインヘルプ、ユーザー文書
■モデル - 5030
- 5029（少量のＤＵＴでのマニュアルＢＩＢload/unload）
- 5030−1（シングルスロットテストディベロップメントステーション）
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